ASTM F1152-2002 硅片刻槽尺寸的标准测试方法
时间:2024-05-20 05:00:17 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9136
【英文标准名称】:StandardTestMethodforDimensionsofNotchesonSiliconWafers
【原文标准名称】:硅片刻槽尺寸的标准测试方法
【标准号】:ASTMF1152-2002
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.06
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅氧烷;试验;尺寸;电子工程
【英文主题词】:notch;notchdimension;opticalcomparator;silicon;wafer
【摘要】:ThisstandardwastransferredtoSEMI(www.semi.org)May20031.1Thistestmethodcoversanondestructiveproceduretodeterminewhetherornotthedimensionsoffiducialnotchesonsiliconwafersfallwithinspecifiedlimits.1.2Theva
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:4P.;A4
【正文语种】:
【英文标准名称】:Testingmethodforincombustibilityofinternalfinishmaterialandprocedureofbuildings(Amendment1)
【原文标准名称】:建筑物内部装饰材料和施工规程的不燃性试验方法(修改件1)
【标准号】:JISA1321AMD1-2011
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2011-02-16
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonArchitecture
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:P16
【国际标准分类号】:91_180;13_220_40
【页数】:1P;A4
【正文语种】:日语
【英文标准名称】:Securities.Schemeformessagetypes
【原文标准名称】:证券.文电类型设计
【标准号】:BSISO7775-1991
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】: