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ISO/IEC 15426-1-2000 信息技术自动识别和数据捕获技术条形码校验一致性规范第1部分:线性符号

时间:2024-05-03 13:08:55 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8019
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【英文标准名称】:Informationtechnology;automaticidentificationanddatacapturetechniques-Barcodeverifierconformancespecifications-Part1:Linearsymbols
【原文标准名称】:信息技术自动识别和数据捕获技术条形码校验一致性规范第1部分:线性符号
【标准号】:ISO/IEC15426-1-2000
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2000-07
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(ISO)
【起草单位】:ISO/IECJTC1
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:符号;数据采集;数据表示;测量仪器;缩微胶卷阅读器;条形码;编码(数据转换);识别;信息技术;规范;合格;数据处理;代码表示;信息交换;自动;数据格式
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofISO/IEC15426definestestmethodsandminimumaccuracycriteriaforverifiersusingthemethodologyofISO/IEC15416forlinearbarcodesymbols,andspecifiesreferencecalibrationstandardsagainstwhichtheseshouldbetested.ThispartofISO/IEC15426providesfortestingofrepresentativesamplesoftheequipment.NOTEISO/IEC15426-2appliestoverifiersfortwo-dimensionalbarcodesymbols.
【中国标准分类号】:L70
【国际标准分类号】:35_040
【页数】:8P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法
英文名称:Method of emission spectrochemical analysis of impurities in ZrO2 for use in electron ceramics
中标分类: 综合 >> 标准化管理与一般规定 >> 技术管理
替代情况:SJ/Z 2321-1983
发布日期:1994-08-08
实施日期:1994-12-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:3页
适用范围

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前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 综合 标准化管理与一般规定 技术管理
【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringSorionSiliconWafersbyAutomatedNoncontactScanning
【原文标准名称】:用自动无触点扫描法测量硅片上索瑞(SORI)的方法
【标准号】:ASTMF1451-1992
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1992
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子工程;杂质;硅片;试验
【英文主题词】:electronicengineering;impurities;siliconslices;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:H81
【国际标准分类号】:31_020
【页数】:11P;A4
【正文语种】:英语